リガク、小惑星「ベンヌ」の砂粒を蛍光X線分析

　リガク・ホールディングス傘下のリガクは5月9日、米航空宇宙局（NASA）の小惑星探査機「オシリス・レックス」がB型小惑星「ベンヌ（101955 Bennu）」から採取した砂粒に対し、波長分散型蛍光Ｘ線分析装置「ZSX Primus IV」を用いた分析を実施したことを発表した。
リガクでの「ベンヌ」に関する分析は今回で2度目のこと。初回の昨年12月には、熱分析を用いて試料に含まれる水分量と炭素量を測定した。